Titan bakrena kompozitna šipka

Uvod

1. Opseg

1. Metoda je prikladna za potvrđivanje ultrazvučne detekcije nedostataka kvalitete obloge titan bakrene kompozitne šipke.

2. Oprema za otkrivanje nedostataka

2.1. Detektor grešaka

Korištenjem ultrazvučnog detektora grešaka s refleksijom pulsa A, performanse instrumenta trebale bi zadovoljiti tehničke specifikacije navedene u JB/T 10061.
2.2 sonda
Ravna sonda s frekvencijom od 2,5MHz~5MHz i promjerom pločice od 10mm~20mm
2.3 sredstvo za spajanje
Koristite čistu vodu ili ulje kao sredstvo za spajanje
2.3 standardni štapić za testiranje
Odaberite isti materijal kao i materijal koji se pregledava, iste veličine, akustične izvedbe i potpuno titan bakrenu kompozitnu šipku kao standardnu ​​ispitnu šipku za podešavanje osjetljivosti

3. Otkrivanje nedostataka
3.1 metoda otkrivanja nedostataka
Metoda višestruke refleksije donjeg vala za kontaktnu ili beskontaktnu inspekciju
3.2 Određivanje površine za otkrivanje grešaka
Bez obzira na šipku u obliku pravokutnika, kvadrata ili bubnja, svaka aksijalna ravnina određena je kao površina za otkrivanje grešaka za sveobuhvatno otkrivanje grešaka.
3.3 Osjetljivost detekcije
Podesite opremu za otkrivanje nedostataka tako da peti donji zazor standardne ispitne šipke bude 50% okomite ljestvice zaslona detektora nedostataka i upotrijebite to kao osjetljivost detekcije.
3.4 brzina otkrivanja nedostataka
Prilikom detekcije, brzina skeniranja sonde općenito nije veća od 150 mm/s.

4. Ocjena rezultata detekcije nedostataka

4.1 Potvrda kompozitnog područja
Stražnja površina dijela za otkrivanje nedostataka jasno je prikazana, a kada kompozitno sučelje titan-bakar ne pokazuje jeku, dio se potvrđuje kao kompozitno područje.
4.2 Potvrda područja bez oblaganja
Kada se odjek donje površine dijela za otkrivanje nedostataka smanji ili nestane, a pojavi se odjek kompozitnog sučelja titan-bakar, potvrđuje se da je dio u području bez obloge.
4.3 Potvrda aksijalne granice područja bez oblaganja
Aksijalna granica područja bez obloge mora biti u središtu sonde kada se sonda skenira aksijalno sve dok ne nestane odjek spoja titan bakar kompozita.
4.4 Proizvodi kvalitete bara
Uvjeti navedeni u donjoj tablici su da je šipka potvrđena kao kvalificirani proizvod.

Hrapavost površine za otkrivanje nedostataka ili promjena donjeg odjeka uzrokovana bakrenom jezgrom ne utječe na konačnu potvrdu kvalitete obloge titan bakrene kompozitne šipke.

Popularni tagovi: Titan bakrena kompozitna šipka, bakrena šipka obložena titanom, bakrena šipka obložena titanom.